Caracterización de un agujero en una placa a partir del campo de deformaciones usando el método de los elementos finitos y algoritmos genéticos

URI: http://hdl.handle.net/1992/9900

Author: Hernández Acevedo, Camilo

Director(s)/Advisor(s): Marañón León, Edgar Alejandro

Publication date: 2008

Content type: masterThesis

Keywords:

Interferometría

Algoritmos genéticos

Método de elementos finitos

Optica - Mediciones

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u336051.pdf

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1.525Mb

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PDF

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